| 3192EX超大规模数模混合集成电路测试系统
|
| ■ 适用范围 |
| 适用于器件生产厂和电子整机厂进行生产测试（中测和成测）及IC使用单位进行器件入厂检测、质量评估或芯片性能研究，可对器件进行动态功能、直流参数和交流参数测试。 |
| ■测试IC种类 |
| 各类微处理器（CPU、MPU、 DSP、ARM等）、存储器、接口电路、FPGA、CPLD 、8000系列、TTL系列、ECL系列器件、CMOS系列、ADC、DAC等。 |
| ■系统特征 |
| ◎ |
基于VXI总线的数字集成电路测试系统，测试系统易于扩展、升级，并可嵌入多家VXI测试模块。 |
|
| ◎ |
高速（400MHz）、高密度768 pin (可扩展至1536pins)、低功耗、高稳定性。 |
| ◎ |
per-pin结构 |
| ◎ |
具有程控负载功能。 |
| ◎ |
具有较强的失效分析功能，设计有每通道失效存储器(64Mbit/通道、最高至128M)。 |
| ◎ |
实现单芯片（SOC）16路数字测试子系统。每片SOC可独立运行（测试向量、测试频率），也可与其他SOC同步运行，实现多时域、并行测试。 |
| ◎ |
现有丰富的测试程序库，程序总数超过1000种。 |
| ◎ |
支持CAD到 CAT自动向量转换（VCD，BIST等格式），可将J750，CHROMA，V50等测试系统的测试程序自动转换为BC3192EX测试程序。 |
| ◎ |
性能稳定可靠，效率高。已应用于生产线，对社保卡、身份证、石油卡、存储器等多种重要芯片进行中测。 |
| ◎ |
系统先后开发了十几家设计公司的数十款芯片的验证、量产测试程序。 |
