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JC-3150
大规模数字集成电路测试系统
JC-3155
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产品信息
JC3150
JC-3155大规模数模混合集成电路测试系统
■ 适用范围
适用于集成电路器件生产厂家生产测试（包括中测和成品测试）；各类电子整机厂家、军工企业的质量检测部门进行入厂检验、质量评估和可靠性分析测试 。
■测试IC种类
可测试管脚数小于256的TTL、ECL、MOS等工艺制造的小规模、中规模、大规模数字集成电路，包括各种4000系列数字集成电路、74/54系列数字集成电路、CPU电路、CPU外围接口电路、CPU外围监控电路、存储器电路(RAM、ROM、PROM、EPROM、EEPROM、FIFO等)、各种总线接口电路(RS-232、RS-422、IEEE488、RS-485、ARINC429等)、定时器电路、数字电位器、可编程逻辑电路PLD、现场可编程阵列FPGA、数字信号处理器DSP等。同时可测试多种模拟及混合集成电路，包括：模拟开关、ADC/DAC转换器、运算放大器、音频功率放大器、电压调整器、电压基准、光耦电路、电源管理芯片等。测试项目包括：功能测试和参数测试，以及测量分析。
主要性能指标
系统主控计算机 Intel Pentium 系列PC机
操作系统 WINDOWS XP
测试编程软件 VC++
功能测试速率 50MHZ
数字通道数 最大至256个I/O管脚
数字系统定时精度 ±1ns
随机图形发生器
图形速率 最大100MHz
图形容量 512K/1M/2M/4M×4位/每管脚
速率发生器
速率范围 20 ns ～ 0.1ms
速率分辨率 0.5 ns
时钟发生器  
定时边沿范围 0 ns ～ 周期值
定时边沿分辨率 40ps
定时边沿数 8个
定时边沿分配 图形格式定时 4个
I/O格式定时 2个
选通定时2个
管脚格式器  
数据格式 3
I/O格式 1
选通方式 1
输出驱动  
高电平 1.5V ～ +6.5V
低电平 1.5V ～ +6.5V
输入比较  
输入高电平 -1.5V ～ +6.5V
输入低电平 -1.5V ～ +6.5V
I/O特性  
上升/下降时间（tr/tf） 1.5nS/V（Swing 10% ～ 90%）
直流测量  
 精密测量单元(PMU)
加压/测流范围 加流/测流范围
-20V ～+20V -200mA～+200mA
 器件电压源(DPS)：2路
加压/测压范围 加流/测流范围
-50V～+50V -2A～+2A
 电压/电流源(VIS)：2路
加压/测压范围 加流/测流范围
-50V～+50V -350mA～+350mA
 低压电压电流源( LVIS): 4路
加压/测压范围 加流/测流范围
-20V～+20V -200mA～+200mA
 高精度程控电压基准

电压输出范围

0V ～ ±10V
 任意波形产生器AWG、低失真音频源：2路
频率范围 电压范围
50Hz ～ 200KHz ±10Vpp
 波形采集与分析器DIG：最多2路
最大采样频率 电压范围
1MS/s ±10Vpp
 波形采集与分析器DIG：最多2路
最大采样频率 电压范围
1MS/s ±10Vpp
 时间测量单元：最多2路
电压范围 频率测量测量 时间测量范围
±10V 20Hz～10MHz 50nS～1S