| 产品分类>> |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
 |
 |
|
|
 |
 |
| 地址 |
| 北京市海淀区北三环中路31号泰思特大厦四层A座 |
| 联系电话:010-82006019 |
| 传真:010-82009408 |
| 电邮:jctest@jctest.com.cn |
|
| 您现在的位置:集诚泰思特测试技术网站 > 首页 > 产品列表 > 产品信息 |
 |
JC-3162大规模数字集成电路测试系统 |
| ■ 系统类型 |
大规模数字集成电路测试系统 |
| ■ 适用范围 |
适用于集成电路器件生产厂家生产测试(包括中测和成品测试);各类电子整机厂家、军工企业的质量检测部门进行入厂检验、质量评估和可靠性分析测试。 |
| ■ 测试IC种类 |
| 可测试管脚数小于128的TTL、ECL、MOS等工艺制造的小规模、中规模、大规模、超大规模数字集成电路,包括各种4000系列数字集成电路、74/54系列数字集成电路、CPU电路、CPU外围接口电路、CPU外围监控电路、存储器电路(RAM、ROM、PROM、EPROM、EEPROM、FIFO等)、各种总线接口电路(RS-232、RS-422、IEEE488、RS-485、ARINC429等)、定时器电路、数字电位器等。测试项目包括:功能测试和参数测试,以及测量分析。 |
|
 |
 |
| ◎ |
系统 |
|
| |
系统主控计算机 |
Intel Pentium 系列PC机 |
| |
操作系统 |
WINDOWS98 / Me /XP |
| |
测试编程软件 |
C,C++ |
| |
功能测试速率 |
10MHz ~ 20MHz |
| |
测试头 |
单头,数字高压/高速测试台 |
|
数字通道数 |
最大至128个I/O管脚 |
| |
数字系统定时精度 |
±1ns |
| ◎ |
数字测试子系统 |
|
| |
随机图形发生器 |
| |
图形速率 |
最大20MHz |
| |
图形容量 |
512K×4位/每管脚 |
| |
速率发生器 |
| |
主钟稳定度 |
5×10-5 |
|
速率范围 |
100ns ~ 100ms |
| |
速率分辨率 |
0.1ns |
| |
时钟发生器 |
|
| |
定时边沿范围 |
0ns ~ 周期值 |
| |
定时边沿分辨率 |
1ns |
| |
定时边沿数 |
7个 |
| |
定时边沿分配 |
图形格式定时 4个 |
| |
|
I/O格式定时 2个 |
| |
|
选通定时 1个 |
| |
管脚格式器 |
|
| |
数据格式 |
6 |
| |
I/O格式 |
3 |
| |
选通方式 |
1 |
| ⑴ 精密测量单元(PMU) |
| 加压测流 |
加流测压 |
| 加压范围 |
准确度 |
| -15V ~ +15V |
0.1%+2mV |
| 测流范围 |
准确度 |
| -200mA ~ +200mA |
0.2%+20nA |
|
| 加流范围 |
准确度 |
| -200mA~+200mA |
0.2%+20nA |
| 测压范围 |
准确度 |
| -15V ~ +15V |
0.1%+4mV |
|
| 加压范围 |
准确度 |
| -9.9V ~ +15V |
0.2%+10mV |
| 测流范围 |
准确度 |
| -1A ~ +1mA |
1%+15uA |
|
|
|