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产品信息
JC3120

JC-3120数字集成电路测试系统

■ 系统类型

数字集成电路测试系统

■ 适用范围
IC生产厂家、封装厂、IC设计部门及各类电子整机厂进行生产测试(中测和成测)、设计验证、入厂检验及质量/可靠性分析、认证测试。
■ 测试IC种类
54/74系列、54/74 HC系列、4000/4500系列、8000系列、存储器、DRAM、E2PROM、EPROM、串行E2PROM、门列阵、微处理器监控电路(看门狗)、石英钟电路、手表电路、LED驱动电路、鼠标电路、红外遥控器电路、无线电遥控器电路、打印机控制电路、MCU、来电指示电路、定时器电路、汽车报警电路等。
主要性能指标
数字子系统  
  管脚数 16 ~ 128pins(16pin/板)
  测试向量深度

512K (标准)/2M(扩展)

  最大时钟速率 200MHz
  分辨率 5ns
  最大数据速率 20MHz
定时分辨率 5ns
  定时精度 ±2ns
  输出驱动 每块通道板一组
   

高电平(Voh):-2V~+9V

    低电平(Vol):-2V~+9V
   

分辨率:1.02mV

    精度:0.5%±15mV
  输入驱动 每块通道板一组
    输入高电平门限:-2V~+9V
    输入低电平门限:-2V~+9V
    分辨率:1.02mV
    精度:0.5%±15mV
直流子系统  
  PMU 1/板,最多8个
  功能 FVMI、FIMV
  电压范围 -5V~+10V
  电流范围 ±200mA
  精度 0.2% ±5mV
   
  高压大电流PMU(四象限) 可提供最多8路
电压范围 ±30V
 

电流范围 

±1A
  精度 0.2% ±5mV
     
  继电器驱动位 最多64个
 
◎ 并行测试

系统同时可测试4个器件