| ◎ |
系统技术指标 |
| ● |
管脚数：32～256 pins（32pin/板） |
| ● |
数据格式：激励：不归零（NRZ）、归零、（RZ）、归一(RO)、反码环绕（SBC） |
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响应：沿比较、窗口比较 |
| ● |
测试向量深度：256K(标准)/1M(扩展)/4M(最大)， |
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4bit/通道(F—DATA、D—Drive、M—Mask、R—Result) |
| ◎ |
测试速率 |
| ● |
最大时钟速率：200MHz |
| ● |
分辨率：5nS |
| ● |
最大数据速率（非复用）：50MHz |
| |
最小数据速率 ：400Hz |
| ◎ |
图形产生器 |
| ● |
Logic，Memory(AGP)，Scan |
| ● |
Scan memory 8M～64M(最大1G) |
| ● |
Scan Configuration 8 bit wide (minimum) |
| ● |
AGP Registers 2X，2Y，BY 12 Bits |
| ● |
图形/向量指令：条件/无条件跳转，子程序调用/返回，步进，循环 |
| ◎ |
定时特性 |
| ● |
Cycle times on the fly：128 |
● 精 度：±2nS |
| ● |
定时范围：2.5uS～5nS |
● 激励沿：8个(4组)/32 pin，64个/256 pin |
| ● |
分辨率：2.5nS(激励),1nS(响应,onthe fly), |
● 响应沿：4个(2组)/32 pin，32个/256 pin |
| |
150pS(响应,no on the fly) |
● I/O 沿：2个/32pin，16个/256pin |
| ◎ |
I/O特性 |
| ● |
上升/下降时间（tr/tf）：1.5nS /V (Swing 10% ～90%) |
| ● |
输出驱动：高电平（Voh）： -1.5V ～ +7.0V(-2.5V～+15.0V高压选择） |
| |
低电平（Vol）： -2.5 V～+5.5V (-2.5V～+15.0V高压选择） |
| |
输出摆幅：0.0V ～ 9.5V |
| |
分辨率：200uV |
| |
精度：0.5% ±15mV |
| |
输出电流（Iol/Ioh）：±50mA,max. |
| |
驱动源阻抗：50ohms |
| ● |
输入接收：比较电平(VOH/VOL)对：1/8 pins |
| |
输入高电平门限：-2.5V ～ 7.0V |
| |
输入低电平门限：-2.5V ～ 7.0V |
| |
分辨率：200uV |
| |
精度： 0.5% ±15mV |
| |
比较类型：沿比较，窗口比较 |
| ◎ |
程控负载 |
◎ 并行参数测试 |
| ● |
程控负载数：每管脚，IOH，IOL，VZ(三态) |
● PUM 数：1/16pins， 2/board
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| ● |
IOH/IOL电流范围：0～20mA |
● 功 能：FV/MI、FI/MV |
| |
电流分辨率：2uA 精度： 0.5%±100 uA |
分辨率：400uV 精度：0.5%±5mV |
| ● |
VZ电压范围：0-5.5V VZ |
● 电压范围：+7V/-5V |
| |
VZ电压分辨率：200uV 精度： 0.5% ±15 mV |
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| 直流子系统 |
| 高压大电流PMU(四相限)可提供4路 :PMU1, PMU2, PMU3, PMU4 |
| 电压范围±26V（可最大扩展至±40V），电流范围可至±500mA(可最大扩展至10A) |
| 四路波形产生器 |
可提供±10V（峰-峰值），100mA，≤500KHz转换速率、16bit分辩率与测试速率同步的程控任意信号。
精度： ±（0.5%编程值+50mV） |
| 波形分析器 |
| 可提供4路±10V（峰-峰值）单端，差分输入的波形分析器，采样速率≤100KHz、16bit分辩率，高速DSP数字信号处理器(选件)，可与测试速率同步。精度：±（0.5%编程值+10mV） |
| 四运放测试模块（四运放环并侧） |
| 可测试高精度、低偏移电压（≤5uV）,低偏移电流(≤10pA)，高增益（≥130DB）运放、比较器 |
